课程背景：

　　为什么我们的产品设计好了，到了用户（现场）却返修率很高？

　　如何为客户提供有力的可靠性指标证据？MTBF的真正含义是什么？

　　MTBF与可靠度、失效率、Downtime 的关系如何？提高可靠真的降低返修率？

　　为何功率管在没超额定功率时仍然烧毁？

　　塑封集成电路为何有防潮要求？

　　开展热设计？

　　如何开展降额设计？

　　如何开展电路可靠性设计，例如继电器用在电路中，是否有潜在通路？CMOS电路真的省电吗？

　　如何开展加速寿命试验？

　　如何权衡试验应力？

　　对于企业领导和研发工程师而言，诸如此类的问题可谓太多，尽快明白可靠性的指标和基本原理，使设计人员掌握一些可靠性设计技能， 是我们迫切需要研究和解决的重大课题。目前很多企业工程师在这方面缺乏实践经验，很多相关知识都是网络和书籍上面了解，但是，一方面在解决实际问题时光靠这些零散的理论是不足的，另一方面，这些“知识”也有可能对可靠性的实质理解造成误解，为帮助企业以及研发人员解决在实际产品设计过程中遇到的问题与困惑，我们举办此次《电子产品可靠性设计与试验技术及经典案例分析》高级训练班，培训通过大量的实际产品可靠性案例讲解，使得学员可以在较短时间内掌握解决可靠性技术问题的技能并掌握可靠性设计的基本思路！同时对企业缩短产品研发周期、降低产品研发与物料成本具有重要意义！

　　课程特色：

　　系统性：课程着重系统地讲述产品可靠性设计和试验的原理，产品可靠性设计的主要方法，产品常见的故障模式及其预防方法，课程以大量的案例来阐述产品可靠性设计的思路与方法,以及可靠性工作重点、工作方法、解决问题的技巧。

　　针对性：主要针对电子产品可靠性设计和测试项目，及各种典型产品出现的不同问题时候的解决思路与方法。使产品经过合理的建模、元器件选用、热设计、潜在分析、降额设计、软件可靠设计、集成电路防浪涌、防静电、防闩锁设计提高产品的可靠性。

　　实战性：在整个培训课程中涉到多个案例，全面讲授产品问题整改设计的技巧。

　　培训收益：

　　本课程主要从可靠性设计及试验案例分析出发，通过可靠性设计案例的分析，向学员介绍有关可靠性设计和试验的实用技术，减少设计人员在产品的设计中可靠性的误区。全面和系统地理解和掌握可靠性相关知识；提高可靠性试验的技能和方法；加深对产品设计可靠性的理解；掌握电子产品可靠性设计及失效分析；加深对元器件的故障模式、影响及危害的认识。同时通过案例说明可靠性设计的原理和方法，让学员更好的理解可靠性设计和试验的精髓.本课程的特点是案例多. 生动.直观.想象与原理精密结合。

　　课程内容：

　　第一单元、常用的可靠性指标及客户可靠性要求的分解

　　1.常用的可靠性指标(30min)

　　可靠度、不可靠度、瞬时失效率、保证寿命、平均寿命、特征寿命、平均修复时间、有效度。

　　2.可靠性与MTBF的理解(30min)

　　一个电表的故事

　　3.客户可靠性要求的分解(30min)

　　第二单、可靠性模型的建立(30min)

　　第三单、可靠性预计(60min)

　　1. GJB可靠性预计法

　　2. 广州地铁电源系统的可靠性模型和预计

　　第四单元、电子可靠性设计(200min)

　　1.可靠性设计的思路

　　设计失败的案例

　　2.某型计算机可靠性设计缺陷分析

　　3.降额设计

　　4.储备（冗余）设计

　　5.潜在通路分析

　　案例1、潜在通路

　　案例2、潜在时间

　　案例3、潜在标志

　　案例4、潜在指示

　　地铁上紧急按钮的潜在指示

　　6.电子产品热设计

　　1) 温度对电子设备可靠性的影响

　　2) 电子设备热的来源

　　3) 热设计的目的

　　4) 热设计的程序

　　5) 热设计中元器件布局案例

　　案例

　　6) 热设计中元器件的安装原则

　　安装失误案例

　　7) 鼓风机的选择与安装

　　8) 冷却剂流道设计

　　9) 改善热设计的方法及案例

　　案例1、密封电子设备

　　案例2、机载电子设备

　　7.软件可靠设计技巧与管理

　　软件可靠设计案例

　　第五单元、元器件的常见的失效模式及预防对策(120min)

　　①阻容元件常见的失效模式及预防对策

　　案例

　　②二极管三极管常见的失效模式及预防对策

　　案例

　　③机电元件常见的失效模式及预防对策

　　案例

　　④集成电路常见的失效模式及预防对策

　　案例

　　⑤防浪涌设计

　　案例

　　⑥防闩锁设计

　　案例

　　⑦ESD防护

　　案例

　　第六单元、可靠性试验

　　1.可靠性试验及其分类(10min)

　　2.可靠性测定试验(30min)

　　点估计

　　区间估计

　　3.可靠性鉴定试验(30min)

　　1) 试验大纲

　　2)试验条件

　　3)试验样品

　　4)一次抽样检验方案的基本原理

　　5)案例分析

　　4.HALT/HASS试验(30min)

　　1)HALT和HASS的概念与应用范围

　　2)高加速的基本原理

　　3)HALT/HASS试验过程及方法

　　4)开展HALT和HASS的几点看法

　　5.加速寿命实验(30min)

　　1) 寿命试验的分类

　　2) 寿命试验的测试点

　　3) 寿命试验的数据处理

　　4)加速寿命试验的理论依据

　　5)加速应力的选择

　　6)样品数量的选择

　　7)激活能的计算

　　8)双应力加速实验法

　　6.可靠性实验案例介绍(70min)

　　案例1、已知置信度和MTBF时的实验测定

　　案例2、已知置信度和可靠度时的实验测定

　　案例3、案例加速寿命实验测定法

　　案例4、激活能的测定

　　第七单元、咨询与答疑（30min）

　　时间地点：

      2011年09月03-04日深圳

　　2011年09月17-18日上海

　　2011年11月05-06日深圳

　　2011年11月12-13日上海

　　培训对象：从事电子产品开发部门主管；研发总监、经理；总工程师；技术总监；产品经理；质量经理；采购经理；可靠性保障工程师；开发人员；电子产品（组件及电子设备）制造行业的设计人员、可靠性试验评价、设计评审、故障分析人员、质量保障人员等

　　（会上安排咨询与答疑，欢迎各位学员带着问题来学习）